為了發(fā)展照明LED技術,發(fā)達國家都非常重視LED測試方法及標準的研究。例如美國國家標準檢測研究所(NIST)組織國際知名測試專家開展LED測試的研究,重點研究LED發(fā)光特性、溫度特性和光衰特性等測試方法,試圖建立整套的LED測試方法和技術標準,在LED測試方面已經(jīng)走在了世界的前列。
半導體發(fā)光二極管(LED)因其體積小、定向發(fā)射光、高亮度、PN結(jié)電特性等特點,從而在品質(zhì)的評價和檢測方法方面產(chǎn)生許多新的問題。不同的應用場合,決定了對LED產(chǎn)品的性能要求。從光學性能來看,用于顯示的LED,主要是亮度、視角分布、顏色等參數(shù)。用于普通照明的LED,更注重光通量、光束的空間分布、顏色、顯色特性等參數(shù),而生物應用的LED,則更關心生物有效輻射功率、有效輻射照度等參數(shù)。此外,發(fā)光二極管既是一種光源,又是一種功率型的半導體器件,因此有關它的質(zhì)量必須從光學、電學和熱學等諸多方面進行綜合評價。
從目前LED產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)及產(chǎn)業(yè)發(fā)展的角度看,照明LED產(chǎn)品主要需考慮光學性能、電性能、熱性能、輻射安全和壽命等幾方面的參數(shù)。
光學性能:LED的光學性能主要涉及到光譜、光度和色度等方面的性能要求。根據(jù)新制定的行業(yè)標準“半導體發(fā)光二極管測試方法”,主要有發(fā)光峰值波長、光譜輻射帶寬、軸向發(fā)光強度、光束半強度角、光通量、輻射通量、發(fā)光效率、色品坐標、相關色溫、色純度和主波長、顯色指數(shù)等參數(shù)。顯示用的LED,主要是視覺的直觀效果,因此對相關色溫和顯色指數(shù)不作要求,而照明用的白光LED,上述兩個參數(shù)就尤為重要,它是照明氣氛和效果的重要指標,而色純度和主波長一般沒有要求。
電性能:LED的PN結(jié)電特性,決定了LED在照明應用中區(qū)別于傳統(tǒng)光源的電氣性能,即單向非線性導電特性、低電壓驅(qū)動以及對靜電敏感等特點。目前主要的測量參數(shù)包括正向驅(qū)動電流、正向壓降、反向漏電流、反向擊穿電壓和靜電敏感度等。
熱性能:照明用LED發(fā)光效率和功率的提高是當前LED產(chǎn)業(yè)發(fā)展的關鍵問題之一,與此同時,LED的PN結(jié)溫度及殼體散熱問題顯得尤為重要,一般用熱阻、殼體溫度、結(jié)溫等參數(shù)表示。
輻射安全:目前,國際電工委員會IEC將LED產(chǎn)品等同于半導體激光器的要求進行輻射的安全測試和論證。因LED是窄光束、高亮度的發(fā)光器件,考慮到其輻射可能對人眼視網(wǎng)膜的危害,因此,對于不同場合應用的LED,國際標準規(guī)定了其有效輻射的限值要求和測試方法。目前在歐盟和美國,照明LED產(chǎn)品的輻射安全作為一項強制性的安全要求執(zhí)行。
可靠性和壽命:可靠性指標是衡量LED在各種環(huán)境中正常工作的能力。在液晶背光源和大屏幕顯示中特別重要。壽命是評價LED產(chǎn)品可用周期的質(zhì)量指標,通常用有效壽命或終了壽命表示。在照明應用中,有效壽命是指LED在額定功率條件下,光通量衰減到初始值的規(guī)定百分比時所持續(xù)的時間。
重視制定測量標準
LED的發(fā)光面小、光束狹窄、亮度高等特點決定了其檢測的特殊性,為了應對這個問題,CIE分別成立了“TC2-45LED測量”和“TC2-46CIE/ISOLED強度測量標準”兩個技術委員會。CIETC2-34小組于1997年10月在維也納總部召開會議,制定并推薦了CIE127-1997LED測量標準,它涉及LED輻射度、光度和色度測量。但是由于近年來LED的技術發(fā)展迅速,尤其是照明用白光LED的產(chǎn)品,許多問題是過去所未考慮到的。因此,在1999年日本京都舉行的CIE年會上,與會的發(fā)達國家代表提議,由CIETC2-34制定白光LED照明器具標準,日本代表團還提交了一般照明用白光LED的兩項標準草案。
為了發(fā)展照明LED技術,發(fā)達國家都非常重視LED測試方法及標準的研究。例如美國國家標準檢測研究所(NIST)組織國際知名測試專家開展LED測試的研究,重點研究LED發(fā)光特性、溫度特性和光衰特性等測試方法,試圖建立整套的LED測試方法和技術標準,在LED測試方面已經(jīng)走在了世界的前列。日本成立了“白光LED測試研究委員會”,專門研究照明用白光LED的測試方法和技術標準。世界發(fā)達國家為了搶占LED研究的制高點,在LED標準和測試方面都投入了大量的人力物力,在標準方面注重選擇LED的特性參數(shù)及測試方法的研究。
在我國,半導體發(fā)光二極管測試方法目前尚無相應的國家標