核心提示:
網訊:X射線熒光(XRF)能用于測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和X射線發(fā)生激烈作用的樣品都不能分析,而要分析的樣品必須經受在真空(4~5Pa)環(huán)境下測定,與其他分析技術相比,XRF具有分析速度快,穩(wěn)定性和精密度好以及動態(tài)范圍寬等優(yōu)點。工作原理或閃爍計數器檢測,其主要組成是X光管、初級準直器、晶體、次級準直器和探測器,及輔助裝置如初級濾光片等。校準。而我公司ARL9800XP熒光光譜儀裝有一個測角儀(掃描道)和一個衍射道,如果需要還可以再裝14個固定道,它配有12位樣品交換器,可以設定自動進樣。
X射線熒光光譜儀的基本原理
被測試樣進入光譜儀后,受到來自X光管發(fā)出的X射線光束激發(fā),產生X熒光,X射線熒光是指用X射線管或其它合適的輻射源照射物質時,使組成物質的原子產生具有特征性的一種次級X射線,X光管發(fā)射的光譜是有靶材元素(Rh銠)的特征譜和連續(xù)譜(或稱白色輻射)所組成,來自樣品的輻射是由X光管光譜和樣品中各元素的特征譜所組成的混合光,這種混合光被引入測角儀所組成的色散系統(tǒng)分光,分光后所得的譜線和被測樣品中存在的元素有關。