核心提示:
顯微系統VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺機器便可以實現無與倫比的高分辨率大范圍形狀測量。
高分辨率,大景深觀察
(1) 高分辨率, 最大放大24000 倍
(2) 完全聚焦的清晰圖像
(3) 符合溯源性要求
仿佛彩色 SEM
(1) 16 bit 激光彩色觀察
(2) 放置并且測量,您可以在幾秒鐘內進行分析
(3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量。可拆卸測量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。
無損輪廓和粗糙度測量
(1) 非接觸式設計,可用于測量軟質的工件
(2) 方便定位測量區域
(3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小
激光顯微系統VK-X100/X200系類