網(wǎng)訊 1.國外相關標準現(xiàn)狀

的測試標準有：

方法（1997）

委員會（CIE）1997年發(fā)表CIE127-1997 LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結(jié)構(gòu)和探測器大小，這樣就為LED準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE127－1997測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術(shù)的快速發(fā)展，許多新的LED技術(shù)特性CIE127-1997 LED測試方法沒有涉及。

，以推動市場應用。

　　2.國內(nèi)相關標準現(xiàn)狀

　　從八十年代初起，我國相繼制定了一些與發(fā)光二極管相關的行業(yè)標準和國家標準。國內(nèi)現(xiàn)有與LED測試有關的標準有：

　　(1)Sj2353.3-83半導體發(fā)光二極管測試方法

　　(2)Sj2658－86半導體紅外發(fā)光二極管測試方法

　　(3)GB/T12561—1990發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范

　　(4)GB/T15651－1995半導體器件分立器件和集成電路：光電子器件（國家標準）

　　(5)GB/T18904.3—2002半導體器件12-3:光電子器件顯示用發(fā)光二極管空白詳細規(guī)范（采用IEC60747-12-3:1998）

　　(6)半導體分立器件和集成電路第5－2部分：光電子器件基本額定值和特性（國家標準；制訂中）

　　(7)半導體分立器件和集成電路第5－3部分：光電子器件測試方法（國家標準；制訂中）

　　(8)半導體發(fā)光二極管測試方法（中國光協(xié)光電器件分會標準；2002）